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更新時間：2024-08-26 
瀏覽次數(shù)：296日本shimadzu半導體粒度分析儀SALD-2300的介紹
粉狀原料的粒度分布對藥物、化妝品、食品、充電電池和其他成品的性能有重大影響，是質(zhì)量控制的重要指標。隨著粒度測量的需求擴展到各個領(lǐng)域，島津開發(fā)出了可以提供更加廣泛的測量范圍，并可方便、快捷的進行精細測定的粒度儀，其粒徑測量范圍可達17納米到2500微米。并且，通過對光路和檢測器的優(yōu)化，靈敏度提高了10倍，因此能夠輕松應對濃度在0.1ppm到200000ppm之間的樣品。
此外，SALD-2300還采用了單一高能半導體光源設(shè)計，在測定過程中無需切換光源，因此其最短測量間隔僅為1秒，并可連續(xù)進行測定，從而可快速對粒子發(fā)生的團聚或分散過程進行實時監(jiān)測，確認樣品的狀態(tài)變化。該光源能量更高，可測定對光吸收嚴重的粒子，同時具有開機預熱時間短，壽命更長的優(yōu)點。
全新配備的Wing SALDII系列軟件著重解決了激光粒度折射率選擇的難題，優(yōu)先配備了自動選擇折射率功能。以往，人們都是使用文獻中給出的折射率數(shù)據(jù)，但是折射率會受到粒子粒徑和形狀的影響，因此這種方法并不可靠。島津公司在行業(yè)范圍內(nèi)優(yōu)先在軟件中開發(fā)了基于LDR原理（光強分布再計算）的自動折射率選擇功能，能夠根據(jù)樣品所得粒度數(shù)據(jù)給出5種佳選的推薦折射率，并給出置信度。
測定范圍： 0.017~2500um
測定模式： 濕式或干式
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