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更新時(shí)間：2024-05-10 
瀏覽次數(shù)：261SETS-200直流測(cè)試系統(tǒng)（1.2kV/20A）
SETS200是一款直流測(cè)試儀，可以對(duì)二極管、晶體管和MOSFET進(jìn)行從小信號(hào)到大電流的高速直流測(cè)試。
特征
實(shí)現(xiàn)1mS的高速繼電器動(dòng)作，縮短測(cè)試時(shí)間
一臺(tái)PC可控制多達(dá)4個(gè)多重測(cè)試
配備生產(chǎn)歷史備份功能
使用 Excel Like 輕松編輯測(cè)試程序
任意波形功能
配備1mV微電壓檢測(cè)電路（可選）
SETS-400直流測(cè)試系統(tǒng)（2kV/100A）
SETS400 是一款直流測(cè)試儀，可對(duì)二極管、晶體管和 MOSFET 進(jìn)行高達(dá)大電流的高速直流測(cè)試。
特征
實(shí)現(xiàn)3mS的高速繼電器動(dòng)作，縮短測(cè)試時(shí)間
一臺(tái)PC可控制多達(dá)4個(gè)多重測(cè)試
配備生產(chǎn)歷史備份功能
使用 Excel Like 輕松編輯測(cè)試程序
可選支持瞬態(tài)熱阻測(cè)試
配備接觸器保護(hù)電路（可選）
ILT-1000L負(fù)載測(cè)試系統(tǒng)（2000V/100A/200V）
ILT-1000 是一款測(cè)試儀，可觀察 MOS-FET 由于 L 負(fù)載而關(guān)閉時(shí)的波形，并確定 GO/NO，以保證由設(shè)置的 VGATE、IH 和 IL 組成的 Vsus 區(qū)域。
特征
可判斷并顯示Vsus、IDP、TG
只需幾毫秒即可完成測(cè)量（取決于測(cè)量條件）
只需幾毫秒即可完成測(cè)量（取決于測(cè)量條件）
可進(jìn)行 2 站蹺蹺板測(cè)量
線圈為專(zhuān)用固定線圈，安裝方式無(wú)論從外觀還是尺寸上都是的。
TG 監(jiān)控可以檢測(cè)是否安裝了測(cè)試程序中的線圈以外的線圈。
TRT-1000瞬態(tài)熱測(cè)試系統(tǒng)（200V/50A）
TRT-1000是利用PN結(jié)正向電壓與溫度變化成正比的特性，測(cè)量MOS-FET、晶體管等瞬態(tài)熱阻（θjc）ΔVF，并與值來(lái)判斷并分類(lèi)。
特征
由于測(cè)量電路上沒(méi)有使用機(jī)械繼電器，電路配置時(shí)間很短。
更換前測(cè)量單元并將其連接到流漿箱的結(jié)構(gòu)可以在最佳電路環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。
對(duì)于接觸檢查，可以任意設(shè)定測(cè)量電流，并顯示接觸電阻的測(cè)量值。
測(cè)量過(guò)程中PC顯示各端子波形，方便觀察波形。
具有自診斷功能，輕松發(fā)現(xiàn)各Bias電路的故障
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